日本nihonika分光放射光量子計(jì) S-2440 modelⅡ
日本nihonika分光放射光量子計(jì) S-2440 modelⅡ
分光放射光量子計(jì) S-2440 modelⅡ
分光放射光量子計(jì) S-2440 modelⅡ
學(xué)術(shù)分野で、光を測定する際の標(biāo)準(zhǔn)測定器として!
高精度?高精細(xì)な測定を可能に!
【特許取得品】
特長
- 【新設(shè)計(jì)専用回路基板】測定誤差となる溫度依存性、ノイズレベルを大幅に低減。※1 その全てをコントロールす る回路基板を新規(guī)開発?!赋訾骏违ぅ氦蛞证à搿工扦悉胜?、「設(shè)計(jì)レベルからノイズを出さない」という新たな発想 に基づき設(shè)計(jì)された低減技術(shù)です。※1. 従來比
- 【ソーラシミュレータ測定に適化した設(shè)計(jì)】太陽光やソーラシミュレータからの放射波長に合わせて感度特性を適化。紫外?近赤外での SN を向上しました。
- 【パルス光との同期測定】當(dāng)社従來機(jī)種でのパルス光測定の場合、パルス光入射後のデータしか取得できませんでし たが、本裝置では新方式でのパルス光測定モード (イベントトリガモード) を採用しました。 イベントトリガモードは、新設(shè)計(jì)専用基板回路とソフトウエアの組み合わせにより、パルス光入射前からデータを スキャンしており、任意のタイミングでデータを取り出すことができます。 つまり、パルス光発光後のピンポイン トでの 1 點(diǎn)測定ではなく、発光前後のパルス波形の発光推移を広範(fàn)囲に取得することができます。 測定開始のタイ ミング信號は、反射型拡散板に取り付けられたホトダイオードが発光信號を検知します。また、トリガの入力検知 レベルは、0 sun ~ 1 sun 相當(dāng)の強(qiáng)度範(fàn)囲で任意に設(shè)定することが可能です。
- 放射波長に合わせて感度特性を適化、広い測定波長範(fàn)囲 300 ~ 1,100nm、シリコン系、 色素増感、有機(jī)薄膜 太陽電池の波長範(fàn)囲をカバー
- 橫軸は波長(nm)、縦軸は光量子束密度 (μmolm-2s-1) を表示、光量子束密度は、相対値(%)でも表示可能
- 任意の波長領(lǐng)域をし、その総和を光量子量で個(gè)別に表示可能、これにより、光合成の効率や光合成活性等を左 右する光源の測定?評価?予測が可能
- 表示は、カラーバーだけでなく、スペクトル自體にカラーグラデーションの表示が可能、 お好みにより、RGB 値を 変更することでカラー変更も行えます
- スペクトルは、グラフのみをエクセル、ワードなどの別ソフトに貼り付けが可能
- 日本電気計(jì)器検定所にて制定された分光放射照度標(biāo)準(zhǔn)電球にて校正を行っており、JISC8912 および JISC8933 に よる太陽電池計(jì)測用ソーラーシュミレータのスペクトル近似度の評価も可能。非常に高精度高精細(xì)な測定器です。
- 高精度トレサビリティ體系に基づくバリデーション対応可能品
仕様
名稱 | 分光放射光量子計(jì) |
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型式 | S-2440 modelⅡ |
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測定波長範(fàn)囲 | 300 ~ 1,100nm |
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測定データ間隔 | 1nm |
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スリット波長幅 | 5nm |
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露光時(shí)間 | 380 ~ 780 nm |
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入射光學(xué)系 | 反射型拡散板付オプチカルファイバ (L=2.4m)? 反射板材質(zhì) (PTFE、φ40mm) ? オプチカルファイバ (石英製、コアφ0.8mm、L=2.4m) |
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対応OS | Windows 8 / 7 / Vista(日本語版 32bit、64bit 版)(パソコン別途ご用意願(yuàn)います) |
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処理回路 | AD 変換回路 16bit |
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インタフェース | USB 2.0 |
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データ出力形式 | テキスト (CSV 形式) (データは 1nm 毎に出力) |
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データ保存數(shù) | 大 1000 データ |
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使用溫濕度範(fàn)囲 | 10 ~ 35℃、相対濕度 80% 以下 / 結(jié)露なきこと |
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本體電源 | DC12V 2A |
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供給電源 | AC100 ~ 240V 50/60Hz ( 専用アダプタ LTE24E-S2-3) |
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本體形狀 | H190×W210×D270(㎜) / 約 5 ㎏ |
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オプション | 標(biāo)準(zhǔn)光源ユニット、 反射型拡散板固定ユニット (上向き照射タイプのソーラシミュレータ用) ファイバ長変更、再校正対応、トレーサビリティ対応書類 |
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